SJ 20013-1992 半导体分立器件 ＧＰ、ＧＴ和ＧＣＴ级ＣＳ１０型硅Ｎ沟道耗尽型场效应晶体管详细规范
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基本信息
| 标准名称： | 半导体分立器件 ＧＰ、ＧＴ和ＧＣＴ级ＣＳ１０型硅Ｎ沟道耗尽型场效应晶体管详细规范 |
| 英文名称： | Semiconductor discrete device-Detail specification for silicon N-channel deplition mode field-effect transistor of Type CS10 GP,GT and GCT classes |
| 中标分类： |
综合 >>
标准化管理与一般规定 >>
技术管理 |
| 发布部门： | 中国电子工业总公司 |
| 发布日期： | 1992-02-01 |
| 实施日期： | 1992-05-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 提出单位： | 中国电子工业总公司科技质量局 |
| 归口单位： | 中国电子技术标准化研究所 |
| 起草单位： | 中国电子技术标准化研究所 |
| 起草人： | 王长福、吴志龙、张宗国、刘美英 |
| 出版社： | 电子工业出版社 |
| 出版日期： | 1992-04-01 |
| 页数： | 10页 |
适用范围
本规范规定了CS10型硅N沟道结型场效应晶体管（以下简称器件)的详细要求，该种器件按GJB33-85《半导体分立器件总规范》的规定，提供产品保证的三个等级（GP、GT和GCT级)。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
GB 4586-1984 场效应晶体管测试方法
GB 7581-1987 半导体分立器件外形尺寸
GJB 33-1985 半导体分立器件总规范
GJB 128-1986 半导体分立器件试验方法
所属分类： 综合 标准化管理与一般规定 技术管理
基本信息
| 标准名称： | 机床电气、电子和可编程电子控制系统 耐压试验规范 |
| 英文名称： | Electrical,electronic and programmable electronic control systems of machine tools—Specification of withstanding voltage test |
| 中标分类： |
机械 >>
金属切削机床 >>
机床综合 |
| ICS分类： |
电气工程 >>
电气工程综合
|
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： | 2011-06-16 |
| 实施日期： | 2011-12-01 |
| 首发日期： | 2011-06-16 |
| 作废日期： | |
| 主管部门： | 全国工业机械电气系统标准化技术委员会(SAC/TC 231) |
| 提出单位： | 中国机械工业联合会 |
| 归口单位： | 全国工业机械电气系统标准化技术委员会(SAC/TC 231) |
| 起草单位： | 广州机床厂有限公司、广州数控设备有限公司、深圳市华测检测有限公司、杭州机床集团有限公司 |
| 起草人： | 谭竞舟、张玉洁、赵韶东、孙华山、陈建明 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2011-12-01 |
| 页数： | 16页 |
适用范围
本标准规定了机床电气、电子和可编程电子控制系统耐压试验的术语和定义、试验设备、试验条件、试验程序、试验记录和试验评定。
本标准适用于标称电压不超过AC1000V 或DC1500V、额定频率不超过200Hz的机床电气、电子和可编程电子控制系统(以下合称电气系统)的耐压试验,类似机床的机械电气系统耐压试验可参照本标准。
前言
没有内容
目录
前言 Ⅰ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 试验设备 2
5 试验条件 2
5.1 试验环境 2
5.2 试验电压 2
5.3 漏电流 3
5.4 试验时间 3
6 试验程序 3
6.1 试验要求 3
6.2 试验电路 3
6.3 试验程序 4
7 试验记录 4
7.1 耐压试验记录 4
7.2 试验记录格式 4
8 试验评定 4
附录A (资料性附录) 耐压试验的温度和湿度区域 5
附录B(资料性附录) 修正的试验电压 6
附录C (资料性附录) 典型机床的电路图与试验电路说明示例 7
附录D (资料性附录) 耐压试验记录格式示例 10
参考文献 11
引用标准
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB5226.1—2008 机械电气安全 机械电气设备 第1部分:通用技术条件(IEC60204-1:2005,IDT)
GB/T17627.1—1998 低压电气设备的高电压试验技术 第一部分:定义和试验要求(eqvIEC61180-1:1992)
GB/T17627.2—1998 低压电气设备的高电压试验技术 第二部分:测量系统和试验设备(eqvIEC61180-2:1994)
所属分类： 机械 金属切削机床 机床综合 电气工程 电气工程综合
【英文标准名称】:SEMICONDUCTORDEVICES.HARMONIZEDSYSTEMOFQUALITYASSESSMENTFORELECTRONICCOMPONENTS.FILMRESISTORSNETWORKS(APPROVALPROCEDURES).SECTIONALSPECIFICATION.SPECIFICATIONCECC64200.
【原文标准名称】:半导体器件.电子元件统一质量评审体系.薄膜电阻器电路(批准程序).分规范
【标准号】:NFC86-433-1988
【标准状态】:作废
【国别】:法国
【发布日期】:1988-11
【实施或试行日期】:1988-10-05
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:分类系统;尺寸测量;合格试验;固定电阻器;电学测量;质量保证;鉴定试验;机械试验;协议;一般条件;环境试验;热试验;电子设备及元件;分类;试验条件;定义;电子元部件
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L04
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:80P.;A4
【正文语种】:其他
