JIS C5630-6-2011 半导体器件.微电机装置.第6部分:薄膜材料的轴向疲劳测试方法
作者:标准资料网 时间:2024-05-12 14:14:43 浏览:9341
来源:标准资料网
下载地址: 点击此处下载
【英文标准名称】:Semiconductordevices.Micro-electromechanicaldevices.Part6:Axialfatiguetestingmethodsofthinfilmmaterials
【原文标准名称】:半导体器件.微电机装置.第6部分:薄膜材料的轴向疲劳测试方法
【标准号】:JISC5630-6-2011
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:2011-08-22
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonElectronics
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_99
【页数】:18P.;A4
【正文语种】:日语
【原文标准名称】:半导体器件.微电机装置.第6部分:薄膜材料的轴向疲劳测试方法
【标准号】:JISC5630-6-2011
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:2011-08-22
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonElectronics
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_99
【页数】:18P.;A4
【正文语种】:日语
下载地址: 点击此处下载